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中压电缆铜丝疏绕屏蔽工艺参数详解

发布时间:2025-02-27 16:44:06 人气:

中压电缆铜丝疏绕屏蔽工艺的核心参数涉及铜丝规格、疏绕结构、间隙控制及配套工艺要求。以下从材料选型、结构设计、工艺参数三个维度展开详细分析:

一、铜丝材料与规格要求

材质标准:铜丝需符合GB/T 3953-2009规定的软铜线,电阻率应满足GB/T3956要求(如短路电流容量下的电阻值)。

截面积选择:铜丝截面积需根据系统短路电流容量计算,常见规格包括16mm²、25mm²、35mm²、50mm²等。例如,标称截面≥500mm²的电缆必须采用铜丝屏蔽,以确保足够的故障电流承载能力。

中压电缆铜丝疏绕屏蔽工艺参数详解(图1)

二、疏绕结构参数

参数项标准要求工艺影响
疏绕节距铜丝外径的14~18倍(如外径10mm的铜丝,节距为140~180mm)节距过小易导致弯曲应力集中,过大则降低屏蔽密度;需平衡柔性与屏蔽效果。
疏绕方向左向疏绕,表面用右向绕包铜带扎紧(反向绕包增强结构稳定性)反向绕包防止铜丝松散,降低成缆时因热膨胀导致的嵌入绝缘层风险。
间隙控制

-平均间隙≤4mm

-任意两根间隙≤8mm

间隙过大降低电磁屏蔽效能,增加局部放电风险;需在线监测疏绕均匀性。

三、配套扎紧工艺

铜带扎紧层:

材质:软铜带,标称厚度≥0.10mm(单芯电缆≥0.12mm),最小厚度≥标称值的90%。

绕包方式:右向绕包,搭盖率≥15%(标称值),最小搭盖率≥5%。

半导电缓冲层(选配):部分设计在绝缘屏蔽层与铜丝间增设半导电缓冲层(如专利CN201266509Y),缓解热膨胀差异导致的铜丝嵌入问题。

四、关键工艺控制点

表面处理:

铜丝疏绕后表面需光滑无毛刺,避免损伤绝缘层。

扎紧铜带接头需平整牢固,无卷边、擦伤等缺陷。

电阻控制:

绝缘屏蔽层电阻率≤500Ω·m(可剥离型)。

铜丝屏蔽整体电阻需通过短路电流仿真验证,确保热稳定性。

成缆配合:

成缆节径比控制在25~30,避免疏绕结构因弯曲变形导致间隙超标。

五、典型工艺缺陷与改进措施

缺陷类型成因分析改进方案
间隙不均匀疏绕张力波动或铜丝直径偏差采用伺服电机闭环控制疏绕张力稳定性。
铜带翘边绕包角度或搭盖率不达标优化铜带预成型弧度,增加在线搭盖检测。
热膨胀嵌入铜丝与绝缘层热膨胀系数差异大增设半导电缓冲层或采用弹性铜合金丝。

六、标准与案例参考

国家标准:GB/T12706.2-2008明确铜丝屏蔽的间隙与扎紧要求。

工程案例:某35kV电缆项目采用35mm²铜丝屏蔽,节距16倍外径,实测平均间隙3.2mm,通过72小时热循环试验无结构变形。

通过上述参数优化与工艺控制,可显著提升中压电缆的电磁屏蔽性能与长期运行可靠性。实际生产中需结合具体电缆型号(如YJV62-8.7/15)及敷设环境(直埋/管槽)动态调整参数组合。

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